
Fachschaft Elektrotechnik
Zuverlässigkeit Mikroelektronik
LVAs
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360.233 VU Mikroelektronik Zuverlässigkeit: Bauelemente 3.0 ECTS / 2 Std
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360.234 SE Mikroelektronik Zuverlässigkeit 3.0 ECTS / 2 Std
Beschreibung
Im Wahlmodul Zuverlässigkeit Mikroelektronik werden die wichtigsten Degradationsprozesse, die schlussendlich zum Ausfall einzelner Bauelemente oder gar der ganzen Schaltung führen, behandelt. Das Modul umfasst sowohl theoretische als auch anwendungsorientierte Aspekte.
Voraussetzungen