Zuverlässigkeit Mikroelektronik

LVAs

• 360.233 VU Mikroelektronik Zuverlässigkeit: Bauelemente 3.0 ECTS / 2 Std
• 360.234 SE Mikroelektronik Zuverlässigkeit 3.0 ECTS / 2 Std

Beschreibung

Im Wahlmodul Zuverlässigkeit Mikroelektronik werden die wichtigsten Degradationsprozesse, die schlussendlich zum Ausfall einzelner Bauelemente oder gar der ganzen Schaltung führen, behandelt. Das Modul umfasst sowohl theoretische als auch anwendungsorientierte Aspekte.

Voraussetzungen