Pruefung aus Messtechnik am 12.12.03 bei Prof. Magerl

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Fuer die VU Kanditaten wird die Frage etwas allgemeiner gestellt:

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• Stellen Sie eine Spannungsmessgeraet zusammen (AC/DC Kopplung, Abschwaecher, Vorverstaerker, Abtast/Halte Glied, A/D Wandler, .. das Kram aus dem Kapitel „Das Digitale Speicher-Oszilloskop“) UND Suchen Sie sich fuer die verwendete Komponente irgendwelche aus dem Skriptum aus und erlaeuern Sie es naeher:(Freier Auswahl DAC, ADC, usw. ).

• Abgetastete aperiodische Signale (Abtastpuls, Verschiebungssatz, B>Ws/2, Die Fehler durch Aliasing IST viel groesser als die Fehler, dich durch AntiAliasingFilter vor dem Abtastung erzeugt wird)

Fuer die VO Kandidaten:

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• Vollweggleichrichter
• DAC mit Zeit als Zwischenspeicher
• Nachlaufverfahren UND Waegeverfahren, der Ablauf, Vorteile und Nachteile (Achtung kein freier Auswahl zwischen DAC bzw. ADC Verfahren, lieber alle Verfahren vorbereiten)
• Fehlerfortpflanzungsgesetz ( Sigma von y in beiden Faellen 1). Xi unabhaenig, 2). Xi kolleriert, die Formel und wenn moeglich eine nette Erklaerung)
• Was sind die systematische Fehler (Offsetfehler, Steigungsfehler, Differentialiaetsfehler, Integritaetfehler, Nicht Monotonie, Missing Code) Also die 6 Abbildungen merken und erklaeren, er wollte genau wissen, wo die Fehler in den Abbildungen liegen und wo sie vorkommen. Offsetfehler wie bei OPVs, Steigungsfehler wenn die OPV-Verstaerkung nicht passt, MissingCode z.B. bei ACD U/f Konverter wenn die Schwellspannungen Usp bzw. Usn klein gewaehlt werden..