Precision Engineering

LVAs

Beschreibung

Grundlagen und physikalische Prinzipien auf der Nanometer-Skala, Kräfte, Limitierungen, Ska- lierungseffekte, hochauflösende Abbildungssysteme, optische und konfokale Mikroskopie, Elekt- ronenmikroskopie (SEM, TEM), Rastertunnelmikr okopie (STM), Rasterkr aftmikroskopie (AFM) und verwandte Methoden (MFM, KFM), Bildverarbeitung, nanomechanische Charakterisierung, Nano-Indentation, Nano-Lithographie, Partik elmanipulation, Nano-Robotik, Thermographie, Interferometrie, Vibrometrie, Spec kle-Messtechnik, und adaptive Optik. Wissenschaftliche Instrumentierung, physikalis che Sensor- und Aktuationsprinzipien und Proto- typenbau.

Voraussetzungen

Detailliertes Wissen der Messtechnik und über mechatronische Syst eme und Systemzusam- menhänge, sowie Interesse an und fundierte Grundkenntnisse in Elektronik und Physik. Gute Kenntnisse der im Modul „Mechatronische Syst eme“ vorgetragenen Inhalte werden erwartet.
Fähigkeit zum Verstehen und zur Analyse komp lexer Fragestellungen und Bereitschaft, in nur schwer vorstellbaren Dimensionen zu denken. Aufbau anspruchsvoller elektronischer Schaltu ngen, sowie optischer und mechatronischer La- borsysteme für wissenschaftliche Inst rumentierung und Liebe zum Detail. Für dieses Modul werden gute Kenntnisse in Englisch erwartet, da die VU Nanometrology In englischer Sprache abgehalten wird.

Modulgruppen