Zuverlässigkeit Mikroelektronik

LVAs

Beschreibung

Im Wahlmodul Zuverlässigkeit Mikroelektronik werden die wichtigsten Degradationsprozesse, die schlussendlich zum Ausfall einzelner Bauelemente oder gar der ganzen Schaltung führen, behandelt. Das Modul umfasst sowohl theoretische als auch anwendungsorientierte Aspekte.

translation missing: de.modul.depend

Modulgruppen